Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Фомовський Ф$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
1. |
Бронніков А. І. Інтелектуальні засоби в системі керування виробничим агентом [Електронний ресурс] / А. І. Бронніков, О. М. Цимбал, Ф. В. Фомовський // Технология приборостроения. - 2014. - № 2. - С. 26-30. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tp_2014_2_9
| 2. |
Фомовський Ф. В. Порівняльний аналіз деградаційної стійкості кристалів напівізолюючого арсеніду галію, легованого хромом або телуром [Електронний ресурс] / Ф. В. Фомовський // Вісник Кременчуцького національного університету імені Михайла Остроградського. - 2014. - Вип. 3. - С. 30-34. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vkdpu_2014_3_7
| 3. |
Клюй М. І. Вплив телуру на деградаційну стійкість кристалів напівізолюючого арсеніду галію [Електронний ресурс] / М. І. Клюй, А. І. Ліптуга, В. Б. Лозінський, А. П. Оксанич, С. Е. Притчин, Ф. В. Фомовський, В. О. Юхимчук // Український фізичний журнал. - 2014. - Т. 59, № 11. - С. 1094-1098. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2014_59_11_10 Показано, що вихідні, необроблені кристали напівізолюючого GaAs, компенсовані телуром, після ВЧ-обробок деградують суттвєо менше у порівнянні зі зразками, легованими хромом. Даний ефект свідчить про суттєвий вплив типу компенсуючої домішки на деградаційну стійкість матеріалу. Також встановлено, що кристали напівізолюючого GaAs, компенсовані телуром, що пройшли попередню обробку в плазмі водню, мають вищу деградаційну стійкість до впливу тривалих високочастотних і мікрохвильових обробок, у порівнянні з необробленими кристалами.
| 4. |
Разумов-Фризюк Є. А. Дослідження параметрів, що впливають на якість моделювання методом пошарового наплавлення [Електронний ресурс] / Є. А. Разумов-Фризюк, Ф. В. Фомовський, С. О. Шепеньов, А. І. Демська // Технология приборостроения. - 2017. - № 1. - С. 53-57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Tp_2017_1_14
| 5. |
Кухаренко Д. В. Метод діагностики складних електронних схем з використанням сигнатурного аналізу [Електронний ресурс] / Д. В. Кухаренко, Ф. В. Фомовський, В. В. Гладкий, С. В. Саньков // Вісник Кременчуцького національного університету імені Михайла Остроградського. - 2020. - Вип. 3. - С. 133-138. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vkdpu_2020_3_20
|
|
|